為什么傳導(dǎo)騷擾測試去掉接地線結(jié)果會變好？

來源：EMC容冠電磁更新時間：2024-07-21 閱讀：

傳導(dǎo)騷擾測試去掉接地線結(jié)果會變好嗎?

問：傳導(dǎo)騷擾測試時，去掉地線一般可以驗證是不是共模干擾，但是去掉地線后，一般好像效果都變得很好，這是為什么？為什么去掉地線后傳導(dǎo)騷擾測試結(jié)果會變好？

答：

傳導(dǎo)騷擾測試時，地線主要影響的是共模干擾，且對金屬外殼的產(chǎn)品影響最為顯著。

如圖1所示為產(chǎn)品接地，EUT產(chǎn)生的共模干擾如圖中的紅線所示，大部分共模干擾將從電源接口濾波電路的Y電容返回源頭，但是，由于產(chǎn)品接地，仍舊將有一部分共模干擾從地線進入LISN，因為電磁干擾主要是共模引起，所以被LISN接收的共模電流形成共模干擾。

圖1 產(chǎn)品接地共模干擾原理

圖2為去掉地線，此時EUT與PE斷開，機殼與參考接地平板之間存在分布電容，但很小很小，基本可以忽略，因此斷開了共模電流流入LISN的途徑，此時共模電流將通過Y電容回到源頭，所以測試結(jié)果會變好。

圖2 產(chǎn)品不接地共模干擾原理

有時在傳導(dǎo)騷擾整改時，有的工程師會在地線上加磁環(huán)（見圖3），同樣測試結(jié)果會變好，道理和圖2是類似的，地線上加了磁環(huán)，相當(dāng)于接地阻抗增大，極端情況就是不接地，此時流經(jīng)地線的共模電流同樣將減小，那么流入LISN的共模電流減小，勢必將改善傳導(dǎo)騷擾測試的結(jié)果，但是，這種方法由于在地線上套磁環(huán)，有的產(chǎn)品可能不允許，比如防雷等等，所以這種方法不可取。