接觸靜電和非接觸靜電的區(qū)別
來源：中翔儀器
更新時(shí)間：2024-07-13
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靜電放電(ESD)造成的危害：引起電子設(shè)備的故障或誤動(dòng)作，造成電磁干擾。
擊穿集成電路和精密的電子元件，或者促使元件老化，降低生產(chǎn)成品率。
高壓靜電放電造成電擊，危及人身安全。
在多易燃易爆品或粉塵、油霧的生產(chǎn)場所極易引起爆炸和火災(zāi)。
靜電引力(ESA)造成的危害：電子工業(yè)：吸附灰塵，造成集成電路和半導(dǎo)體元件的污染，大大降低成品率。
靜電對LED燈珠的危害，因瞬間的電場或電流產(chǎn)生的熱，使LED燈珠局部受傷，表現(xiàn)為漏電流迅速增加，仍能工作，但亮度降低(白光將會(huì)變色)，壽命受損。
因電場或電流損壞LED燈珠的絕緣層，導(dǎo)致LED燈珠出現(xiàn)損壞，無法工作，主要表現(xiàn)為死燈。
靜電測試方法
靜電測試前的準(zhǔn)備工作:
連接好準(zhǔn)備測試的設(shè)備，確保測試前的設(shè)備是正常運(yùn)行的。
連接好靜電放電測試儀，確保測試儀的地線與設(shè)備的地線相互連接，形成放電回路。
接觸靜電測試
測試項(xiàng)目包括設(shè)備機(jī)箱外殼，電源接口，控制接口，以及通訊接口等。
測試順序標(biāo)準(zhǔn)，測試順序?yàn)橄却_定電壓，再確定頻率。電壓由低到高，頻率由慢到快。即依次為2kV低頻測試，2kV高頻測試，4kV低頻測試，4kV高頻測試，直到20kV低頻測試，20kV高頻測試。在提高精度測試過程中也同樣遵循先確定電壓，再確定頻率這一原則
非接觸靜電測試
測試電壓標(biāo)準(zhǔn)，測試靜電電壓從2kV開始增加，每次增加2kV,直到20kV為止，即測試靜電電壓分別為2kV,4kV, 6kV, 8kV, 10kV, 12kV, 14kV, 16kV, 18 kV, 20kV.測試通過標(biāo)準(zhǔn)，硬件無任何損壞，通訊正常，數(shù)據(jù)無錯(cuò)誤，丟失等情況。
參考標(biāo)準(zhǔn)
