關于仿真結果的SE處理

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作為一個新手，進入論壇厚收貨頗豐，這兩天一直在看需要的帖子，看大神們的回復，自己嘗試著去做，努力看Help文件。看到有個帖子里 說用Template based postprocessing可以計算腔體屏蔽效能的SE值，但是自己嘗試了很久，只能做到這一步

然后以就不知道怎么處理了，找不到“減”貨真任何可以把兩個探針結果進行處理的選項啊，幫助文件了也沒找到說明，我是不是忽視了什么?希望懂的大神能教教我

general 1D→ mix 1D

昨天嘗試mix了 第一次用的Log10A-Log10B的公式，能得到1D結果，后來想嘗試一下Log10(A/B)，怎么就不行了，公式輸入完在TEMPLATE里自動識別成0D了，然后就無法運算，是公式錯了么?

1. 計算屏蔽效能SE的話 肯定是計算電場場強，不是能量 所以 一定是log20 不是log10
2. 為何不直接把探針處的dB值先取出來 然后直接 A-B。

恩，昨天都試過了 差不多算是解決了，現(xiàn)在就是精度太差，還在摸索，做不到別人的那中水平。非常感謝你耐心的解答！

CST有本叢書15中有關于SE仿真的介紹，我也是從那里面學的，建議你也看看

看了呢，看來看的不夠仔細。另外能不能問下，我在看PLANE WAVE波形時，可能激勵時間只有十幾ns，但是圖上的時間軸一直到到了250ns，這樣波形看起來就特別窄，看不清，這個能手動解決么?

右鍵plot properties把那個auto scale勾掉，選擇合適的x軸范圍即可。

試了試，成功了成功了 太感謝了！

小編求助 求SE 是要設置兩個探針是嗎? 一個在導體內 另一個呢? 再說必須要自己用20log（E1/E2) 設置公式來求SE嗎 ? 沒有直接像HFSS中直接設一個點即可求SE的方法嗎? 我是新手求助