CST如何利用探針求出S參數

求解器：時域求解器
入射：平面波 正入射
邊界：open 和 周期
結構：3000nm 空氣(1)和 3000nm 玻璃（1.5）
理論上可以算出，電場振幅透過率平方為0.96
但是如果通過放探針探測電場振幅除以入射振幅求出來的數值完全不對，請問是什么原因，正確的做法是什么？

而且，對于同一均勻介質，入射平面波設置1V/m， 在多個波長外放致探針，如果改變介質的折射率，探針檢測到的電場振幅居然會變，比如介質折射率為1，探測到的是1，折射率為1.5，探測的就是0.84了。不知道是什么原理。

真實奇怪的結果，而且在頻域求解器中也存在同樣的問題，通過探針的方式得出的投射譜和計算結果是不一樣的。

嘿嘿。用探針測s參數，我之前做天線仿真的時候也試過，我在之前的帖子里面也談過，這是一個很蛋疼的問題。
首先，你用測到的電場幅度去直接除激勵，如果你除以的是理論的激勵值的化，我基本可以確定你得不到cst直接計算給你的值，因為cst在計算中使用了一個隱形的歸一話，你加的電場是1v/m，實際計算中可能是0。8v/m，至于為什么這么做我也不知道。
還有一點，如果是需要計算s參數的話，因為參數S_{11},、S_{12},、S_{21},和S_{22},給出的是每一端口的反射功率波與入射功率波的關系。所以應該是反射場除入射場，比如說我們假設全場為Etotal,入射場為Einc.則有反射場Ediff = Etotal-Einc。你用探針測得的是Etotal，所以正確的算法應該是FT{(Etotal-Einc)/Einc}.其中Einc應該是歸一化以后，在cst計算中真實的入射電場值，及你定義的理論值乘上一個系數。我用這個辦法算過天線的s參數，得出來的結果和cst直接計算出來的結果完全一致，我不太清楚在你這個問題里面是否適用。
關于第二個問題，也需要注意你探車到的是全場，而不只是入射場或者是放射場。如果你已經做了減法，則需要注意你減的入射場要是cst真實計算中的數值。用商業軟件就是這點不好，因為他有很多計算過程是隱性的，計算中的物理參數并非完全受你控制，所以你要確定你設定的物理條件是否就是cst計算中的真實條件，商業軟件在計算的時候因為數學需要常常會做一些隱性的歸一化或者等效變換，這樣就會導致方針的最終結果是對的，但是如果我門提取一些中間結果，然后用自己理解的物理模型來計算，就可能導致最終結果和軟件輸出的不一樣。這也就是我現在為什么要苦13的自己編寫仿真代碼的原因。
我搞電磁學算是半路出家，本科和碩士階段都沒怎么系統的學過，用cst也不到半年，如果有說的不對的還望各位大大出來指正，以免誤導他人。

好的，非常感謝！

利用DFT變換算反射沒問題，透射問題還是一樣的。看來對于多介質仿真探針不能在FDTD求解器下做定量分析了。